专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于信号编码和空间压缩的光谱成像系统-CN202010514626.X有效
  • 陈雪利;任枫;曾琦;王楠;徐欣怡;詹勇华 - 西安电子科技大学
  • 2020-06-08 - 2021-07-16 - G01N21/65
  • 本发明具体涉及一种基于信号编码和空间压缩的光谱成像系统,包括:激发源模块,用于发射目标波长的激光光束,并照射到样本上激发出瑞利散射光信号和散射光信号;信号收集模块,用于滤除瑞利散射光信号、收集散射光信号;空间编码模块,用于将散射光信号进行空间编码并压缩为一维阵列散射光信号;光谱成像模块,用于对一维阵列散射光信号进行分光处理并转化为散射电信号;系统控制与数据处理模块,用于控制发射目标波长的激光光束、对收集的散射光信号进行空间编码、采集散射电信号,对散射电信号进行图谱重建得到图像和光谱。通过系统控制与数据处理模块实现光谱和图像的同时采集。
  • 一种基于信号编码空间压缩光谱成像系统
  • [发明专利]用于测量散射的光学探头及其测量方法-CN201611124263.9有效
  • 赵军;周新;王晓路 - 必达泰克知识产权公司
  • 2016-12-08 - 2020-10-09 - G01N21/65
  • 本发明公开了一种用于测量散射的光学探头,包括一个包含至少两个端口的反射腔,所述反射腔覆盖的样品散射激发光并产生散射光,被样品散射的激发光和散射光被反射腔反射直至该激发光和散射光从反射腔的第一端口输出以进行测量或者在第二端口被样品再次散射本发明提高了散射的激发和接受效率,而且对于具有漫散射特性的非透明样品,可以使更多的激发光进入样品内部,从而使测量样品内部信号成为可能。本发明还公开了一种测量大面积样品散射的方法,一种测量表层和里层为不同材料的漫散射样品的散射的方法和一种测量透明或漫散射样品透射散射的方法。
  • 用于测量散射光学探头及其测量方法
  • [发明专利]一种基于贝塞尔光的便携式光谱仪-CN202010245412.7在审
  • 陈雪利;任枫;占自银;杨上;王浩宇;曾琦 - 西安电子科技大学
  • 2020-03-31 - 2020-07-14 - G01N21/65
  • 本发明涉及一种基于贝塞尔光的便携式光谱仪,包括激光器、贝塞尔光生成模块、样本台、信号收集模块和光谱仪,其中,激光器,用于通过传输光纤或空间自由光方式发射高斯光束;贝塞尔光生成模块,用于将激光器发射的高斯光束转换成贝塞尔光束,并将贝塞尔光束照射到样本上激发出瑞利散射信号和散射信号;样本台,用于放置样本,样本被所述贝塞尔光束照射后激发出瑞利散射信号和散射信号;信号收集模块,用于收集样本透射的瑞利散射信号和散射信号,并滤除瑞利散射信号,保留散射信号,耦合散射信号到光谱仪;光谱仪,用于接收信号收集模块收集的散射信号。
  • 一种基于贝塞尔光便携式光谱仪
  • [发明专利]显微分光测定装置以及显微分光测定装置的调整方法-CN202180045043.X在审
  • 篠山智生;石原悠悟;马路健;田尾知世 - 株式会社岛津制作所
  • 2021-03-19 - 2023-03-03 - G01N21/65
  • 提供一种能够进行S/N比高的测定的显微分光测定装置。显微分光测定装置(100)检测并分析从被照射了激励光的试样(S)散射散射光,所述显微分光测定装置(100)具备:激光光源(102),其射出激励光;分光器(120),其测量散射光的光谱;光辨别部(105),激励光被所述光辨别部(105)反射使得该激励光去向试样(S),并且从试样(S)散射散射光透过所述光辨别部(105)使得该散射光去向分光器(120);聚光透镜(111),其将透过光辨别部(105)后的散射光进行聚光;光圈(124a),其配置于聚光透镜(111)与分光器(120)之间,用于限制向分光器(120)入射的散射光;以及调整单元(104),其将由聚光透镜(111)进行聚光的散射光的光点像的位置与光圈(124a)的位置调整为一致,以使通过光圈(124a)的散射光的光量成为最大。
  • 显微分光测定装置以及调整方法
  • [发明专利]光谱装置-CN202011431398.6在审
  • 缪同群 - 上海新产业光电技术有限公司
  • 2020-12-07 - 2021-03-19 - G01N21/65
  • 本发明提供了一种结构简单、设计合理、使用方便的光谱装置。一种光谱装置,包括激光器、扩束准直镜头、第一带通滤光片、汇聚镜头、第二带通滤光片以及光谱仪,所述激光器发出激光,所述扩束准直镜头对所述激光进行准直,所述第一带通滤光片位于所述激光的光路上,纯化所述激光,所述汇聚镜头将激光聚焦到待测样品激发散射光,并将所述散射光进行准直,所述第一带通滤光片对所述汇聚镜头准直后的所述散射光进行过滤,去除所述散射光中的瑞利散射光,所述第二带通滤光片对所述散射光中的瑞利散射光进行二次去除,并将所述散射光汇聚入所述光谱仪的入口处,所述光谱仪收集散射光,生成信号。
  • 光谱装置
  • [发明专利]磷烯晶向的识别方法、装置及电子设备-CN201910635720.8有效
  • 仇巍;李如冰;亢一澜;曲传咏;张茜 - 天津大学
  • 2019-07-15 - 2021-01-12 - G01N21/65
  • 本申请提供了一种磷烯晶向的识别方法,该方法包括:获取待识别磷烯的目标特征峰的散射光谱信息;其中,散射光谱信息为在拉系统散射光路无检偏模式下,在不同入射光偏振方向时采集的目标特征峰的原始散射光谱信息;从目标特征峰的散射光谱信息中,提取出目标特征峰对应的强度数据;基于预设的目标特征峰对应的散射强度公式,对目标特征峰对应的强度数据进行拟合,得到待识别磷烯的晶向所在角度。本申请能够在拉系统散射光路无检偏模式下,实现对磷烯的晶向识别。
  • 磷烯晶识别方法装置电子设备
  • [发明专利]一种单光子光频梳源-CN202310431871.8有效
  • 王冲;杨淏程;薛向辉;李雨蝶;陈廷娣 - 中国科学技术大学
  • 2023-04-21 - 2023-07-14 - H01S3/115
  • 一种单光子光频梳源,包括光源组件、筛选机构、至少三个电光调制器、波分复用器、单光子产生机构。光源组件,适用于产生散射光;筛选机构,适用于通过特定波长的光,进而实现对散射光进行筛选,得到至少三条散射谱线;至少三个电光调制器,电光调制器适用于一一对应地对一条散射谱线的频率进行调制,以使散射谱线发生频移;波分复用器,适用于对所有调制后的散射谱线进行复用,并输出频谱为等频率间隔的脉冲光,以形成光频梳;单光子产生机构,适用于对光频梳进行调节,得到单光子光频梳。
  • 一种光子拉曼光频梳源
  • [实用新型]用于测量散射的光学探头-CN201621343446.5有效
  • 赵军;周新;王晓路 - 必达泰克知识产权公司
  • 2016-12-08 - 2017-09-01 - G01N21/65
  • 本实用新型公开了一种用于测量散射的光学探头,包括一个包含至少两个端口的反射腔,所述反射腔覆盖的样品散射激发光并产生散射光,被样品散射的激发光和散射光被反射腔反射直至该激发光和散射光从反射腔的第一端口输出以进行测量或者在第二端口被样品再次散射本实用新型提高了散射的激发和接受效率,而且对于具有漫散射特性的非透明样品,可以使更多的激发光进入样品内部,从而使测量样品内部信号成为可能。
  • 用于测量散射光学探头
  • [发明专利]一种表面增强散射基底及其制备方法和应用-CN202010652293.7在审
  • 不公告发明人 - 杭州威纳激光科技有限公司
  • 2020-07-08 - 2020-09-11 - G01N21/65
  • 本发明属于表面增强散射光谱分析技术领域。本发明提供了一种表面增强散射基底,本发明提供的表面增强散射基底,在表面具有微米坑与纳米带、纳米突起、纳米波纹和纳米颗粒的多级三维自支撑结构。本发明还提供了所述表面增强散射基底的制备方法,本发明通过控制激光加工参数以及扫描参数,可以对材料表面的微纳结构实现可控制备,进而提升表面增强散射的效果,制备过程简单实用,适于批量制备。本发明还提供了所述的表面增强散射基底在表面增强散射中的应用,本发明提供的表面增强散射基底具有高灵敏度、优异的均匀性和稳定性,可应用于大部分的检测领域。
  • 一种表面增强散射基底及其制备方法应用

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